HAST高加速壽命試驗箱

HAST高加速壽命試驗箱：塑封器件具有體(ti) 積小、重量輕、成本低、電性能指標優(you) 良等特點。在發達國家塑封器件的發展早已成熟,取代陶瓷封裝器件的趨勢已定,發達國家早在多年前便已成功地將塑封器件應用在許多軍(jun) 工電子設備中。而在我國,由於(yu) 缺乏軍(jun) 工塑封器件生產(chan) 線,國內(nei) 工業(ye) 級塑封線不能*符合軍(jun) 工級標準,因此HAST高加速老化試驗在塑封器件中起到舉(ju) 足輕重的作用，以溫度和濕度為(wei) 基礎加速新式集成電路的失效，加快塑封器件的發展應用。

什麽(me) 是HAST高加速老化測試？

   HAST高加速壽命試驗箱：高度加速的溫度和濕度壓力測試（HAST）是一個(ge) 高度加速，以溫度和濕度為(wei) 基礎的電子元件可靠性試驗方法。隨著進來電子技術的高速發展，幾年前剛剛出現的加速試驗可能不再適應當今的技術了，尤其是那些專(zhuan) 門針對微電子產(chan) 品的加速試驗。例如，由於(yu) 塑料集成電路包的發展，現在用傳(chuan) 統的、普遍被接受的85℃/85%RH的溫度/濕度試驗需要花上千小時才能檢測出新式集成電路的失效。在大多數情況下，試驗樣本在整個(ge) 試驗中不發生任何失效。因此，需要進一步改進加速試驗。HAST就是為(wei) 代替老的溫度/濕度試驗而開發的方法。

HAST高加速老化測試參考標準

IEC 60068-2-66:1994、GB/T 2423.40-2013、JESD22-A102-D、JESD22-A110-D、JESD22-A118-A

HAST高加速老化測試參考方法

測試設備：HAST高壓加速老化試驗箱

HAST試驗箱適用於(yu) IC封裝，半導體(ti) ，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用於(yu) 在產(chan) 品的設計階段，用於(yu) 快速暴露產(chan) 品的缺陷和薄弱環節。測試其製品的密封性和老化性能。

HAST的測試是在特定的溫度和相對溫度下進行濕度或壓力。大氣通常具有至少100℃的溫度，在a水蒸汽加壓狀態。有飽和和HAST的不飽和品種。前者通常在121℃和100%RH的條件下完成，後者在110、120或130℃和85%RH的條件下，完成測試電子元件的通電通常是不飽和類型。

以下試驗要求參照標準：GBT 2423.40-2013(IEC 60068-2-66) 電工電子產(chan) 品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱